2025 L4: Electronic Devices: How They Operate and Are Fabricated/Defects, Contaminants, Yields(1)
2025 L4 : Dispositifs électroniques : comment ils fonctionnent et sont fabriqués/Défauts, contaminants, rendements(1)
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陽明交大電子吳添立 | 半導體教學 | WLab
@wlab4650
![[2025 short course] 5-2: GaN BTI/TDDB/Switching/CGD/CGS & SiC TDDB](https://i.ytimg.com/vi/guedXDV6Ye8/maxresdefault.jpg)
[2025 short course] 5-2: GaN BTI/TDDB/Switching/CGD/CGS & SiC TDDB
[Cours court 2025] 5-2 : GaN BTI/TDDB/Switching/CGD/CGS & SiC TDDB
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2025 L3: An Overview of Electronic Devices and Their Reliability (2)
2025 L3: Un aperçu des dispositifs électroniques et de leur fiabilité (2)
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2025 L2: Introduction (2) /An Overview of Electronic Devices and Their Reliability (1)
2025 L2: Introduction (2) /Un aperçu des dispositifs électroniques et de leur fiabilité (1)
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![[2025 short course] 5-1: Wide bandgap GaN & SiC/ GaN OFF-state reliability](https://i.ytimg.com/vi/kvbVoPBfCtQ/maxresdefault.jpg)
[2025 short course] 5-1: Wide bandgap GaN & SiC/ GaN OFF-state reliability
[2025 cours court] 5-1 : Fiabilité à l'état bloqué du GaN et SiC/ GaN à large bande interdite
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2025 L1: Introduction_半導體元件可靠度及其失效物理 Reliability and Failure Physics of Semiconductor Devices
2025 L1: Introduction_半導體元件可靠度及其失效物理 Fiabilité et physique des défaillances des dispositifs à semi-conducteurs
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![[2025 short course] 4-2: Hot Carrier Injection/ Charge Detection/ Bias Temperature Instability](https://i.ytimg.com/vi/yWt--ll3TV0/maxresdefault.jpg)
[2025 short course] 4-2: Hot Carrier Injection/ Charge Detection/ Bias Temperature Instability
[2025 short course] 4-2 : Injection de porteurs chauds / Détection de charge / Instabilité de température de polarisation
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